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淺析熱釋光探測器的工作原理

更新時間:2022-04-08      點擊次數:3763
  熱釋光探測器(TLD)是利用熱致發光原理測量核輻射的裝置。熱釋光發光體作為劑量元件,把接收到的射線的能量儲存積累起來,由熱釋光加熱發光裝置加熱后,劑量元件發出光,通過光電倍增管轉換成電信號并輸出顯示。是20世紀60年代發展起來的一種輻射劑量測量方法。熱釋光探測器廣泛應用于輻射防護、放射醫學、放射生物學、地質學、考古學和環境保護等領域,尤其在個人劑量監測中被廣泛使用。
 
  熱釋光探測器是利用熱致發光原理測量核輻射的裝置。具有晶體結構的某些固體,常含有多種晶格缺陷(如一些原子或離子缺位或加入某些外來雜質等),它們能吸引異性電荷形成“陷阱”。當射線照射時,在固體中產生的電子和正離子被其俘獲。檢測時加熱固體,則釋放的電子和正離子與固體其他部分的異性電荷復合并發光。其發光光線穿過并導光電倍增管產生光電流,再經直流放大器放大,通過記錄器記錄。
 
  熱釋光元件可以重復使用。但是,經核輻射照射后的熱釋光體只允許一次加熱測量,因為加熱后,儲存的信息就被破壞了,不能復查測量結果。在劑量監測中,萬一某次測量失誤,測量結果就被丟失。要再次使用時,熱釋光體要用高溫退火。對不同材料,退火溫度不*相同。如對LiF,要在400℃下保持1h,在該條件下,可使400℃下的所有發光峰陷阱中的電子全部釋放出來,而陷阱能級并不破壞。
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